国家专用集成电路设计工程技术研究中心

基本信息 开放实验室名称国家专用集成电路设计工程技术研究中心
类型研究中心
认定部门中科院自动化研究所认定时间1995年
依托单位中科院自动化研究所
所属功能平台高性能集成电路(IC)技术支撑平台
所属领域电子信息
负责人王东琳
服务特色国家专用集成电路设计工程技术研究中心(简称“集成中心”)1992年成立,是科技部第一批授牌的国家工程技术研究中心,是隶属中科院自动化所的非法人研究单元。集成中心以高性能、超高性能数字信号处理器设计、抗辐照数字信号处理器设计、卫星导航终端芯片设计为主要研发方向。用于集成电路设计、测试、分析、老化筛选以及可靠性考核的软硬件固定资产总值近1.5亿元,在研科研项目总经费1.2亿元。
在微电子领域尤其在高端DSP芯片设计、分析、制造等方面满足国家重大需求。集成中心在数字信号处理器(DSP)设计领域居国内领先水平,具备完整规范的数字、模拟、射频集成电路设计流程,拥有完善的EDA工具链和硬件仿真加速器,可以进行350nm~65nm CMOS工艺、1亿门级规模集成电路设计工程;拥有符合GJB548B规范的集成电路测试筛选工艺线,在集成电路老化筛选、可靠性评估技术方面居国内先进水平。
科研队伍和骨干专家现有事业编制科研人员40人,研究生40人,企业聘用员工100人。王东琳,博士,所长兼任中心主任,集成电路芯片研究员。
科研成果高性能数字信号处理器系列:
自动化所自主研发的高性能数字信号处理器,与国际先进的DSP芯片可以1:1替换,现已形成系列产品,具有国内领先水平,获2007年度国家科技进步二等奖。
已完成研制的系列处理器中单核浮点计算性能最高的DSP,其峰值处理能力达到每秒360亿次浮点操作,集成规模达到上亿晶体管。
正在研发的具有创新体系架构的多核代数运算处理器将数字信号处理器硬件支持从标量/超标量运算提升至代数运算层次,数量级地提升数字信号处理器的能效比。通过指令系统研究与指令集设计、异构多核体系结构研究与设计、高性能微体系结构研究与设计、高性能部件研究与设计、SoC系统集成设计、并行多任务管理系统研究与设计七大关键技术,在并行代数运算和并行存储体系指令系统和硬件架构方面产生重大原始性创新,形成了六项核心专利,预计近期的总数据处理能力是现有能力的50倍以上。已完成研制的系列处理器在高计算密级度的特殊场合得到广泛应用,性能表现稳定。
卫星导航芯片组:
卫星导航芯片组包括可接收精码导航信号的射频芯片、可专用于接收北斗-B1频点和GPS-L1频点的双通道射频芯片和可接收北斗和GPS民用信号的基带芯片。
精码导航射频芯片可以接收北斗B1、B2、B3以及GPS L1、GPS L5、GLONASS L1、L2频点的信号,经放大、变频、滤波等处理后输出模拟或数字中频信号供基带芯片使用,可以用多片芯片构建多模接收机。
双通道射频芯片专用于并行接收北斗B1和GPS L1民用导航信号,用于构建低成本的组合导航模块。
北斗和GPS民用导航基带芯片与射频芯片配合,完成对导航信号的捕获、跟踪、伪距观测和导航解算。基带芯片包含1024节匹配滤波器和24个可变间距相关通道,可以实现对卫星信号的快速高灵敏捕获。
我国北斗卫星导航系统发展迅速,卫星导航终端市场必然随之迅速扩展。该芯片组已和一些北斗用户机厂商开展合作,在部分北斗用户机上使用。
集成电路高温老化筛选系统:
集成电路高温老化筛选系统为国产DSP芯片提供全面满足GJB548B老化要求的高温、全速、全功能测试系统,弥补了目前国内SOC芯片老化深度不够的缺陷。
老化试验的目的是为了筛选或剔出那些勉强合格的器件。这些器件或本身具有固定缺陷,或其制造工艺控制不当产生缺陷,这些缺陷会造成与时间和应力有关的失效。如不进行老化,这些有缺陷的器件在使用条件下会出现初期失效或早期寿命失效。
该老化系统解决了相关设备在运行频率低,功能深度不够的难题,能让被老化器件运行于自己额定频率,而且可以对器件的功能进行全面的验证。还可以根据器件的特点,方便地对器件的功能和频率进行更改,大大的增加了系统的灵活性。
该系统主要包括了以下几个部分:
DSP测试系统——为该系统的核心部分。主要工作是为我们的SOC器件提供全频率、全功能的运行平台。
DSP运行监控系统——监控系统的主要任务是监控器件的运行状态,以此判断器件在老化过程中是否出现过故障。
软件系统——主要包括芯片的测试程序、PC端对系统的控制软件。
老化系统是整个特种器件筛选工序中非常重要的一环。特殊用途的器件,必须百分百的进行老化。自动化所研制的系列高性能数字信号处理器在交付用户使用前全部经该系统筛选。
代表仪器设备

名称1

40106集成电路测试仪

原值(万元)

1010

厂商及型号


主要性能参数

电源模块;高速模拟模块;射频模块;高速数字模块642个高速数字测试通道,其中16个 3.6GHz数字测试通道.

功能用途

高速数字电路\模拟\射频集成电路产品的WAFER测试和成品测试.

名称2

深紫外光光学显微镜

原值(万元)

130

厂商及型号


主要性能参数

深紫外光波长:248nm;光源:80W汞氙灯;光学分辨率:80nm

功能用途

WAFER目视检查;


专业服务机构名称北京科岳中科科技服务有限公司
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